أحد فروع علم الأطياف الإلكترونية، يتم فيه قذف سـطح جـامد بأشعة إلكترونية أحادية الطاقة. ويلاحظ انبعاث الأشعة السينية التى يكون تغير شدتها صغيرا وفجائيا مع تغير طاقة الإلكترونات.

(انظر:فلورسية الأشعة السينية) - x-ray fluorescence)

(انظر:ميكروسكوب إسقاطي) - projection microscope)

فى الكهرومغناطيسية: أشعة سينية (إكس) ذاتُ طولٍ موجى طويل نسبيا فى نطاقها وقدرةِ اختراق ضعيفة.

في البلورات: تحليل التركيب البلوري للمواد عن طريق مرور أشعة – x خلالها وتسجيل صورة حيود الأشعة. (انظر:التحليل بالأشعة السينية) - x-ray analysis)

في فيزياء الجوامد: طريقة لقياس حيود الأشعة السينية، يتم فيها توجيه شعاع أحادي اللون من الأشعة السينية إلى عيّنة تتكون من عدد هائل من بلورات صغيرة في أوضاع عشوائية . (انظر:طريقة المسحوق) - powder method)

(انظر: (x-rays.

في علم الأطياف الذرية: بنية شبه موجية لطيف امتصاص الأشعة السينية لمادة ما، عند طاقات تكاد تتخطى حافة الامتصاص المصاحبة لتحرر الالكترونات الداخلية. (انظر:حافة امتصاص) - absorption edge)

(انظر:طريقة المسحوق) - powder method، نمط مسحوقي powder pattern)

نوع من أشعة إكس يتولد نتيجة لإعادة توزيع الإلكترونات في القشور الداخلية للذرة. ويتكون الطيف الناتج عن ذلك من خطوط يتوقف طولها الموجي على نوع العنصر ومستوي الطاقة المعني.